Анализ поверхности и наноструктур - F3-CS

Последние новости

[13.01.2021]

Как повысить эффективность солнечных элементов?
Читать далее»

[29.12.2020]

С наступающими новогодними праздниками!
Читать далее»

[21.12.2020]

Анонс курса повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»

[21.12.2020]

Анонс курса повышения квалификации по ИК спектроскопии в 2021 г.
Читать далее»

[09.11.2020]

Фурье-БИК анализаторы ANTARIS
Читать далее»

[05.11.2020]

Раман спектрометр iXR
Читать далее»

[04.11.2020]

Конкурс вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»

[03.11.2020]

Анонс вебинара и конкурса вопросов по ИК спектроскопии
Читать далее»

...История новостей

Ближайшие семинары

19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»

29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»

13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»

Больше семинаров

Новые разработки

	Элементный анализ
	Молекулярный анализ
	Термоанализ и реология

задать вопрос менеджеру

F3-CS

Производитель: Filmetrics

Анализатор F3-CS - простой и надежный инструмент для измерения толщины, отражающей способности и коэффициента преломления для небольших образцов. Разработан для образцов-свидетелей, компактен, легко может переноситься с места на место. Для толщины пленок от 1 нм до 450 мкм (в зависимости от модели).

Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru

Политика кофиденциальности

Создание сайта Wilmark Design