На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур - Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP

Последние новости
[15.04.2021]
Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий
Читать далее»
[05.04.2021]
Выставка "TechnoPark Ural" 20-21 апреля 2021 г.
Читать далее»
[02.04.2021]
Выставка "Аналитика Экспо 2021" 13-16 апреля 2021 г.
Читать далее»
[01.04.2021]
Семинар в Нижнекамске
Читать далее»
[26.03.2021]
Вебинар по наноиндентированию
Читать далее»
[15.03.2021]
Многокомпонентный анализ токсичности дыма. Вебинар
Читать далее»
[04.03.2021]
С наступающим 8 марта!
Читать далее»
[02.03.2021]
Участие в выставке "Композит Экспо-2021"
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.04.2021 - 22.04.2021
Выставка "TechnoPark Ural"
г. Екатеринбург, МВЦ "Екатеринбург-Экспо"
Читать далее»
20.04.2021 - 20.04.2021
Семинар по методам молекулярного, термического анализа и реологии
г. Нижнекамск, Нижнекамский химико-технологический институт
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP


Производитель: KLA-Tencor
Области применения: Микроэлектроника
Анализ покрытий
Нанолитография
Полупроводниковая промышленность
Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP

 

Семейство стилусных профилометров высокого разрешения HRP включает в себя две модели: HRP 250 и HRP 350.

Оба представителя этой серии являются высокопроизводительными, максимально автоматизированными профилометрами промышленного назначения, ориентированными на высокое разрешение сканирования и чрезвычайно высокую пропускную способность.

Для приборов семейства HRP доступен широкий набор стилусов с различными радиусами скругления. Самый острый из них - 20 нм UltraSharp (TM) делает возможным сканирование поверхности устройств, выполненных по технологии 45 нм. Разрешение сканирования при этом сопоставимо с получаемым на атомно-силовом микроскопе, но при этом срок эксплуатации стилуса примерно в сто раз превышает срок эксплуатации кантилевера атомно-силового микроскопа.

Максимальная длина сканируемой области для HRP-250 составляет 200 мм, для HRP-350 - 300 мм.

 


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design