На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур - Стилусный профилометр P-7

Последние новости
[15.04.2021]
Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий
Читать далее»
[05.04.2021]
Выставка "TechnoPark Ural" 20-21 апреля 2021 г.
Читать далее»
[02.04.2021]
Выставка "Аналитика Экспо 2021" 13-16 апреля 2021 г.
Читать далее»
[01.04.2021]
Семинар в Нижнекамске
Читать далее»
[26.03.2021]
Вебинар по наноиндентированию
Читать далее»
[15.03.2021]
Многокомпонентный анализ токсичности дыма. Вебинар
Читать далее»
[04.03.2021]
С наступающим 8 марта!
Читать далее»
[02.03.2021]
Участие в выставке "Композит Экспо-2021"
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.04.2021 - 22.04.2021
Выставка "TechnoPark Ural"
г. Екатеринбург, МВЦ "Екатеринбург-Экспо"
Читать далее»
20.04.2021 - 20.04.2021
Семинар по методам молекулярного, термического анализа и реологии
г. Нижнекамск, Нижнекамский химико-технологический институт
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


Стилусный профилометр P-7


Производитель: KLA-Tencor
Области применения: Наука
Материаловедение
Полупроводниковая промышленность
Стилусный профилометр P-7
Увеличить

 Стилусный профилометр P-7

Обновление в линейке стилусных профилометров P-серии. Принципиально прибор остался прежним и относится к классу контактных (механических или стилусных) профилометров.

Принцип их действия заключается в том, что алмазный стилус перемещается по поверхности, отслеживая рельеф. Сигнал о положении стилуса на поверхности оцифровывается и преобразуется в 2D или 3D картинку.

 

Функциональная схема профилометра P-6

Популярность у пользователей стилусного профилометров P-серии и в особенности Р-7 строится на использовании передовых разработок компании KLA-Tencor – программного управления предметным столом, малошумящего измерительного тракта, а так же высокой разрешающей способности и размеров получаемых изображений. Все перечисленные характеристики приятно совмещаются с экономичной ценой прибора.

Исключительная точность анализа поверхности, возможность для осуществления которого предоставляет профилометр P-7, позволяет добиваться лучшего соотношения цена/качество среди всех производителей, доступных на рынке.

Три различные измерительные головки, доступные для этого прибора, обеспечивают гибкость измерения топографии поверхности в широких диапазонах вертикального перемещения, а интуитивно понятный интерфейс делает работу на приборе простой и понятной для пользователя.

 Стилусный профилометр P-7 обладает выдающимися характеристиками, что делает его очень мощным инструментом для таких областей применения как:

  • Разработка процессов производства и контроля научных исследований;
  • Производство фотоэлектрических элементов;
  • Производство устройств хранения данных;
  • Производство микроэлектромеханических систем;
  • Оптоэлектроника;
  • Прочие применения промышленной метрологии высокоточных производств. 

Основными приложениями для стилусного профилометра P-7 являются:

  • Измерение толщины и шероховатости тонких пленкок и покрытий;
  • Исследование структуры пластичных материалов (возможно за счет приложения переменного усилия к стилусу, использования емкостного датчика положения, а так же сменных стилусов);
  • Измерение глубины травления;
  • Вычисление более чем 40 различных параметров поверхности, в том числе шероховатость, плоскопараллельность, макрорельеф с помощью программного обеспечения для анализа пиков;
  • Расчет параметров топологии поверхности по данным измерений и преобразование результата в 3D модель. В качестве опции предлагается офлайн анализ данных, позволяющий производить анализ без влияния на производительность;
  • Измерение напряжений в тонких пленках (позволяет оптимизировать процессы для предотвращения появления трещин или нарушений адгезии);
  • Выявление дефектов поверхности. Продвинутые характеристики системы выявления дефектов позволяют добавлять модели дефектов, созданные пользователем. Даже самые маленькие дефекты в случае их обнаружения могут быть перемещены в центр сканируемой области, оптимизируя тем самым процесс обследования и анализа дефектов.

Профиль поверхности подложки кремниевого фотоэлемента


Назад


О компанииНовостиОборудованиеЛИМСКомплексные проектыБиблиотекаСервисКонтактыВакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design