На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Дифференциальные сканирующие калориметры Термогравиметрические анализаторы Комплексные методы Механические анализаторы Промышленные анализаторы Микрокалориметры Реологические исследования Анализаторы теплопроводности Дилатометры Дополнительное оборудование Механические анализаторы медицинского назначения

Дилатометры - Нагревательный микроскоп MISURA® HSM

Производители
TA Instruments

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Нагревательный микроскоп MISURA® HSM


Производитель: TA Instruments
Области применения:  Черная металлургия
Добыча и переработка сырья
Атомная промышленность
Геология
Наука
Материаловедение
Угольная промышленность
Стекольная промышленность
Полупроводниковая промышленность
Нагревательный микроскоп MISURA® HSM
Увеличить

Нагревательный микроскоп MISURA® HSM обладает уникальными характеристиками и предназначен для изучения поведения материалов в ходе быстрых и мгновенных циклов спекания. Этот нагревательный микроскоп используется в керамической промышленности для определения параметров размягчения стекол и спекания керамических изделий, на электростанциях и металлургических предприятиях – для изучения спекания и плавления золы, кроме того в металлургии - для подбора состава и контроля качества формовочных смесей.

Нагревательный микроскоп MISURA® HSM позволяет одновременно анализировать до двух и четырех образцов одновременно в зависимости от комплектации. В результатах анализа можно получить автоматически информацию:

 

  • характеристические температуры: начало синтеза, размягчения, образования сферы, полусферы, плавление;
  • плавление в соответствии с международными стандартами;
  • кривая изменения пористости керамики;
  • скорость спекания;
  • зависимость краевого угла смачивания;
  • кривая изменения площади образца;
  • изменение соотношения высоты и ширины образца;
  • эффекты вспучивания;
  • сжигание;
  • теоретическая вязкость;
  • поверхностное натяжение при высоких температурах.

 

Технические характеристики

Оптическая измерительная система однолучевая
Диапазон расширения/образца (в зависимости от размеров образца) +50% / -100%
Расположение образца вертикальное
Число образцов

1 или 2

до 4 образцов – дополнительная опция

Размеры образца:

- цилиндр

- цилиндр (дополнительная опция)

- куб (дополнительная опция)

- пирамида (дополнительная опция)

- одиночная гранула (дополнительная опция)

 

3 х 2 мм

до 20 х 20 мм

до 20 х 20 х 20 мм

до 19 х 6,4 мм - 60°

от 100 до 800 мкм

Температурный диапазон в зоне образца от комн. до 1650°С
Скорость нагрева

от 0,1 до 80°С/мин

до 350°С/мин (дополнительная опция)

Термопара образца  тип S (ТПП10)и/или B (ТПР)
Термопара печи (1600°С) тип B (ТПР)
Интерфейс связи с компьютером USB и RS-232

Дифференциальный термический анализ для:

  • прессованных порошков (без тигля);
  • компактных образцов (без тигля);
  • порошков в тигле
дополнительная опция
Атмосфера

окислительная (статическая и динамическая);

инертная (динамическая)

Охлаждение дополнительная опция
Соответствие стандартам ASTM D1857-68, BS 1016:Part 15:1960, CEN/TR 15404:2010, CEN/TS 15370-1:2006, DIN 51730,DM 05-02-1998, IS 12891:1990, ISO 540:1995, NF M03-048


Назад


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design