На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Атомно-абсорбционные спектрометры Эмиссионные спектрометры с индуктивно-связанной плазмой Масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой Термоионизационные масс-спектрометры Triton Plus/XT Масс-спектрометр тлеющего разряда Element GD Plus Изотопные масс-спектрометры Delta V Фотометрические анализаторы Gallery Анализаторы элементные FlashSmart

Элементный и изотопный анализ - Магнито-секторные ИСП-МС Element

Последние новости
[15.04.2021]
Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий
Читать далее»
[05.04.2021]
Выставка "TechnoPark Ural" 20-21 апреля 2021 г.
Читать далее»
[02.04.2021]
Выставка "Аналитика Экспо 2021" 13-16 апреля 2021 г.
Читать далее»
[01.04.2021]
Семинар в Нижнекамске
Читать далее»
[26.03.2021]
Вебинар по наноиндентированию
Читать далее»
[15.03.2021]
Многокомпонентный анализ токсичности дыма. Вебинар
Читать далее»
[04.03.2021]
С наступающим 8 марта!
Читать далее»
[02.03.2021]
Участие в выставке "Композит Экспо-2021"
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.04.2021 - 22.04.2021
Выставка "TechnoPark Ural"
г. Екатеринбург, МВЦ "Екатеринбург-Экспо"
Читать далее»
20.04.2021 - 20.04.2021
Семинар по методам молекулярного, термического анализа и реологии
г. Нижнекамск, Нижнекамский химико-технологический институт
Читать далее»
13.04.2021 - 16.04.2021
Выставка "Аналитика Экспо 2021"
г. Москва, МВЦ "Крокус Экспо", павильон 3, зал 13
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


задать вопрос менеджеру  


Магнито-секторные ИСП-МС Element


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения:  Атомная промышленность
Микроэлектроника
Геология
Наука
Материаловедение
Полупроводниковая промышленность

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Element – магнито-секторные масс-спектрометры высокого разрешения с двойной фокусировкой, созданные для количественного и изотопного анализа с рекордно высокой чувствительностью наряду с возможность устранения практически всех спектральных наложений. Устранение наложений происходит за счет высокого спектрального разрешения m/?m до 10 000 без использования реакционно-столкновительной ячейки. Линейка ИСП-масс-спектрометров Element включает две модели – Element 2 и Element XR. Модель XR обладает расширенным динамическим диапазоном до 12 порядков за счет наличия дополнительного детектора Фарадея.

Спектрометр предоставляет пользователю уникальный набор возможностей и характеристик:

  • Диапазон m/z – 1-260 а.е.м.;
  • Рекордная чувствительность >109 имп/сек/ppm In, обеспечивающая пределы обнаружения на уровне от пг/л (ppq) для элементов, свободных от спектральных наложений, до десятых долей нг/л (ppt) для проблемных элементов;
  • Возможность повышения чувствительности, снижения пределов обнаружения до уровня десятых долей пг/л и точного измерения изотопных отношений в растворах с концентрациями менее 10 нг/л c использованием технологии повышеня чувстыительности Jet Interface;
  • Самый низкий фоновый сигнал
  • Низкая относительная интенсивность мешающих ионов: BaO+/Ba+2+/Ba+
  • 3 спектральных щели обеспечивают разрешение m/?m (10% высоты пика) – 300, 4 000 и 10 000;
  • Переключение щелей в течение 1 сек;
  • Ламинированный теплоизолированный магнит с водяным охлаждением обеспечивает отличную стабильность масс-калибровки – 25 ppm за 8 часов работы и самую быструю скорость сканирования – 150 мс для диапазона 7-238-7 а.е.м.;
  • Высокая точность определения изотопных отношений в режиме низкого разрешения за счет плоской вершины пика (flat top);
  • Возможность прямого определения серы и фосфора на низком уровне с высокой чувствительностью.

Запросить дополнительную информацию по спектрометрам можно, нажав кнопку "Задать вопрос менеджеру" в верхней части страницы.


Назад


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design