На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Общелабораторное оборудование Элементный и изотопный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами

KLA-Tencor

KLA-Tencor
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 


Оптические профилометры MicroXAM

Быстрые, точные и бесконтактные 3D поверхностные измерения с субнанометровым разрешением и вычислением основных параметров поверхности
Наноинденторы G200

Точные, надежные, удобные в работе приборы для наномеханических испытаний. Позволяют проводить измерения модуля Юнга и твердости материалов, деформации (шесть порядков величины – от нанометров до миллиметров), при этом испытания можно проводить в различных режимах: наноиндентирования, скретч-тестирования, износа и т.д.
Оптические профилометры Zeta Instruments

Оптические профилометры на основе уникальной технологии ZDot, обеспечивающей полноцветные изображения поверхности материалов и не имеющей ограничений применения интерферометрии

Настольный оптический профилометр Zeta-20

Бесконтактный оптический профилометр на основе технологии ZDot для исследований и разработок

 

Напольная система Zeta-300

Бесконтактный оптический профилометр на основе технологии ZDot с системой вибро- и акустической изоляции для промышленного применения
Оптический профилометр Zeta-388

Напольный оптический профилометр с кассетной загрузкой для автоматической инспекции и метрологии
 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ] [ 3 ]


О компании Новости Оборудование ЛИМС Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design