Анализ поверхности и наноструктур -
сканирующая зондовая микроскопия
В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)
Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.
Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.
Производители
|
Сканирующая зондовая микроскопия (физико-химический и структурный анализ свойств поверхности на атомном уровне)
|
