На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг загрязнения воздуха Анализ в управлении технологическими процессами

Новый вебинар по атомно-силовой микроскопии

Последние новости
[12.04.2015]
Вебинар по атомно-силовой микроскопии 28 апреля 2015 г.
Читать далее»
[08.04.2015]
Вебинар по термическому анализу
Читать далее»
[07.04.2015]
Новинки в библиотеке статей TA Instruments
Читать далее»
[30.03.2015]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[30.03.2015]
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[24.03.2015]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Читать далее»
[13.03.2015]
IX Международная конференция горно-металлургического комплекса в Казахстане
Читать далее»
[10.03.2015]
Размещение информации о дилатометрах
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
29.06.2015 - 02.07.2015
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
МИТХТ им. М. В. Ломоносова, г. Москва
Читать далее»
15.06.2015 - 18.06.2015
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
МИТХТ им М.В. Ломоносова, г. Москва
Читать далее»
25.05.2015 - 03.06.2015
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
Институт Гипроникель, г. Санкт-Петербург
Читать далее»
19.05.2015 - 19.05.2015
Вебинар по исследованию биообъектов методом АСМ
Online, 11.00-12.00 мск.
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[19.01.2015]

Новый вебинар по атомно-силовой микроскопии

Исследование магнитных и электрических свойств материалов на наноуровне
Увеличить

27 января 2015 г. в 11.00 мск. состоится второй вебинар из цикла вебинаров по атомно-силовой микроскопии: "Исследование магнитных и электрических свойств материалов: от проводников до диэлектриков".

  • Какие возможности предоставляет АСМ для исследования электрических и фотоэлектрических свойств поверхности?
  • Для каких объектов применима электросиловая микроскопия, метод зонда Кельвина и микроскопия проводимости?
  • В чем преимущество новой методики микроскопии импеданса микроволн (sMIM)?
  • Как проводить исследования намагниченности образцов при приложении внешнего магнитного поля?

Эти и другие вопросы будут подробно освещены в ходе нашего вебинара. Участники вебинара смогут задать свои вопросы докладчику.

Докладчик: Иван Леонидович Волков, к.ф.-м.н., специалист по применению атомно-силовой микроскопии Московского представительства компании INTERTECH Corporation [email protected]

Участие в вебинаре - бесплатное, по предварительной регистрации. Число участников - ограничено. Зарегистрируйтесь сейчас, чтобы гарантированно принять участие в вебинаре 27 января 2015 г.

Специальный приз. Участник, отправивший до 26 января 2015 г. лучший вопрос по тематике вебинара на e-mail  , получит в подарок книгу "Справочник по микроскопии для нанотехнологии". Авторы: Нан Яо, Чжун Лин Ван. Научный редактор: И. В. Яминский. Издательство "Научный мир". 712 стр, 2011 г. Содержание книги » 

 

 

О цикле вебинаров по атомно-силовой микроскопии »

Первый вебинар "Новейшие технологии в АСМ высокого разрешения: фототермическое возбуждение кантилевера, сканирование в контролируемой среде" состоялся 9 декабря 2014 г. Запрос записи вебинара направлять на e-mail

 

Скачать файл

« вернуться


О компании Новости Оборудование Мебель Комплексные проекты Применение Библиотека Контакты Сервис Вакансии
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Создание сайта Wilmark Design