На главную 8-800-200-42-25

 
расширенный поиск
Английская версия сайта Русская версия сайта
Элементный анализ Молекулярный анализ Анализ поверхности и наноструктур Термический анализ и реология Мониторинг атмосферы и промышленных выбросов Анализ в управлении технологическими процессами
Дифференциальные сканирующие калориметры Термогравиметрические анализаторы Комплексные методы Механические анализаторы Промышленные анализаторы Микрокалориметры Реологические исследования Анализаторы теплопроводности Дилатометры Дополнительное оборудование Механические анализаторы медицинского назначения

Дилатометры - Нагревательный микроскоп MISURA® HSML

Производители
TA Instruments

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Нагревательный микроскоп MISURA® HSML


Производитель: TA Instruments
Области применения:  Черная металлургия
Атомная промышленность
Геология
Наука
Материаловедение
Анализ покрытий
Угольная промышленность
Стекольная промышленность
Машиностроение
Полупроводниковая промышленность
Нагревательный микроскоп MISURA® HSML
Увеличить

Нагревательный микроскоп MISURA® HSML предназначен для изучения поведения материалов при нагревании со скоростями до 30°С/мин. Этот нагревательный микроскоп используется в керамической промышленности для определения параметров размягчения стекол и спекания керамических изделий, на электростанциях и металлургических предприятиях – для изучения спекания и плавления золы, кроме того в металлургии - для подбора состава и контроля качества формовочных смесей.

Нагревательный микроскоп MISURA® HSML позволяет одновременно анализировать до двух и четырех образцов одновременно в зависимости от комплектации. В результатах анализа можно получить автоматически информацию:

  • характеристические температуры: начало синтеза, размягчения, образования сферы, полусферы, плавление;
  • плавление в соответствии смеждународными стандартами;
  • кривая изменения пористости керамики;
  • скорость спекания;
  • зависимость краевого угла смачивания;
  • кривая изменения площади образца;
  • изменение соотношения высоты и ширины образца;
  • эффекты вспучивания;
  • теоретическая вязкость;
  • поверхностное натяжение при высоких температурах.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Оптическая измерительная система однолучевая
Диапазон расширения/образца (в зависимости от размеров образца) +50% / -100%
Расположение образца вертикальное
Число образцов

1 или 2

до 4 образцов – дополнительная опция

Размеры образца:

- цилиндр

- цилиндр (дополнительная опция)

- куб (дополнительная опция)

 

3 х 2 мм

до 6 х 6 мм

до 6 х 6 х 6 мм

Температурный диапазон в зоне образца от комн. до 1750°С
Скорость нагрева от 0,1 до 30°С/мин
Термопара образца тип S (ТПП10)и/или B (ТПР)
Термопара печи (1600°С) тип B (ТПР)
Интерфейс связи с компьютером USB и RS-232

Дифференциальный термический анализ для:

прессованных порошков (без тигля);

компактных образцов (без тигля);

порошков в тигле

дополнительно
Атмосфера

кислительная (статическая и динамическая);

инертная (динамическая)

Охлаждение естественное
Соответствие стандартам ASTM D1857-68, BS 1016:Part 15:1960, CEN/TR 15404:2010, CEN/TS 15370-1:2006, DIN 51730,DM 05-02-1998, IS 12891:1990, ISO 540:1995, NF M03-048


Назад


О компании Новости Оборудование LIMS Комплексные проекты Библиотека Сервис Контакты
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design